轮廓仪怎么选？CE / CF / CQ / FD 四系全对比：速度、精度与形貌一步定档
WALE 轮廓仪四系同平台（X 0-300mm、天然大理石台面）：按「速度 ↔ 精度」定位——CE 标准（0.5mm/s，入门耐用）、CF 高速（2mm/s + 磁吸测杆）、CQ 高精度（Z1 分辨率 0.02μm、±1′）、FD 形貌（1.2nm，纳米级微观形貌）。
常规轮廓抽检 CE 起步；节拍紧选 CF；精密件 CQ；要微观形貌 FD。
轮廓仪用触针沿工件表面扫描，输出二维轮廓：轴肩、圆角、沟槽、锥度、母线直线度……是「形状与位置」的通用量具。WALE 四系共用一个平台（X 轴 0-300mm、Z 轴 420/620mm、天然大理石 500×800mm 台面），差别在驱动速度、传感器分辨率与精度等级：
四系定位一张表
| 系列 | 定位 | 最快速度 | Z1 分辨率 | 轮廓精度（线性） | 角度 | 适合 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CE 标准型 | 入门耐用 | 0.5mm/s | 0.02μm | ≤±(0.8+|0.05H|)μm | ±2′ | 常规轮廓抽检 |
| CF 高速型 | 节拍优先 | 2mm/s | 0.02μm | ≤±(0.8+|0.05H|)μm | ±2′ | 批量产线 + 磁吸换杆 |
| CQ 高精度型 | 精度优先 | 2mm/s | 0.02μm | ≤±(0.6+|0.02H|)μm | ±1′ | 精密件、圆弧半径 |
| FD 形貌 | 微观形貌 | 2mm/s | 1.2nm | ≤±(0.5+|0.02H|)μm | ±1′ | 纳米级形貌分析 |
先按图纸的圆弧公差与角度公差定档（CQ/FD 的 ±1′ 与更小圆弧误差是分水岭），再按节拍定速度。
🧰 逐款带你看
四系按「标准 → 高速 → 高精度 → 形貌」排好。
入门主力：PEEK 改性复合导轨免维护，测量分析报表三分离。
- 杠杆比最大限度保持传感器原精度
- PEEK 改性复合导轨，长期免维护
- X 0-300mm，Z 420/620mm 可选
- 线性 ≤±(0.8+|0.05H|)μm
产线节拍款：2mm/s + 三点磁吸测杆，换传感器 1 秒免校正。
- 最快测量速度 2mm/s
- 磁吸式测杆，切换传感器仅需 1 秒
- 存储各测杆校准数据，换杆免校正
- 高速并行采集，硬件触发无延时
精度档：丝杆伺服驱动 + 专用模板一键批量测量。
- Z1 线性 ≤±(0.6+|0.02H|)μm，圆弧 ±(1.5+R/12)μm
- 角度 ±1′，直线度 0.5μm/100mm
- 伺服丝杆快速定位
- 可定制专用测量分析模板
形貌档：1.2nm 分辨率，纳米级微观形貌分析。
- Z1 分辨率 1.2nm，线性 ≤±(0.5+|0.02H|)μm
- 圆弧 Pt ≤0.3μm，直线度 0.3μm/100mm
- 接触式纳米级至微米级形貌
批量轮廓检测的走量款：2mm/s 节拍 + 磁吸测杆免校正换杆，一人多岗不吃力。
- 2mm/s 与精度兼顾
- 磁吸三点定位，1 秒换杆
- 校准数据随杆存储
- 含免费寄样测试与上门培训
📊 一张表选对型号
按工件与节拍对号：
| 你的场景 | 推荐 |
|---|---|
| 来料 / 首件轮廓抽检 | CE |
| 产线批量轮廓全检 | CF |
| 圆弧半径 ±μm 级、角度 ±1′ | CQ |
| 表面微观形貌 / 粗糙轮廓双需求 | FD，或一体机 CQI / FDI（见《粗糙度轮廓一体机怎么选》） |
🔧 核心仪器
WALE CE 标准型 / CF 高速型 / CQ 高精度型轮廓测量仪；
FD 表面形貌测量仪
✅ 选型关键要点
- 圆弧与角度公差定档：±1′ 与 ±(1.5+R/12)μm 是 CQ 的分水岭，普通抽检 CE/CF 够。
- 速度与精度同看：CF 与 CE 精度同级，速度差 4 倍；CQ/FD 兼顾 2mm/s 与更高精度。
- 磁吸测杆生态：CF 的 1 秒换杆 + 免校正，多特征工件的产线效率利器。
- Z1 量程 30-60mm：大台阶、深沟槽确认量程够用。
- Z 轴行程 420/620：按工件高度选。
- 导轨免维护：PEEK 改性复合导轨长期使用免维护，全生命周期成本低。
💡 温馨提示
下面这几条都是真金白银踩出来的，下单前扫一眼。
- 拿轮廓仪测粗糙度：轮廓与粗糙度是两套滤波与参数体系，复合需求看复合机 / 一体机。
- 只比 Z1 分辨率：CE/CF/CQ 同为 0.02μm，差别在线性与圆弧精度；FD 的 1.2nm 是形貌级。
- 忽视 X 轴直线度：0.5μm/100mm（截止 2.5）是母线类测量的基准，验收要测。
- 模板不复用：CQ 支持专用测量模板，同类件一键批量——不建模板等于白买。
🙋 常见问题
- 轮廓仪和粗糙度仪的区别？
- 轮廓仪测「形状」（放大几十倍的宏观轮廓：台阶、圆角、锥度），粗糙度仪测「表面纹理」（微观峰谷 Ra/Rz）；复合需求看 CER/CQR 系复合机。
- CE 和 CF 精度一样，为什么选 CF？
- 同精度下速度差 4 倍 + 磁吸换杆 1 秒免校正——批量场景 CF 的节拍优势就是钱。
- CQ 的「专用测量模板」是什么？
- 针对同类型零件定制的测量 + 分析流程模板，一次建好同类件一键批量测量，减少人为设置差异。
- FD 能替代 CQ 吗？
- FD 精度更高可向下覆盖常规轮廓，但定位是微观形貌分析；纯轮廓批量检测 CQ/CF 更经济。
- X 轴 300mm 不够怎么办？
- WALE 平台固定 300mm；更长的轴向轮廓需评审工件，或分段拼接测量。
🏭 他们都用得上
四系一站配齐
- 📏 CE / CF / CQ / FD
- 🔧 粗糙度 + 轮廓复合：CER / CFR / CQR / FDR，见《粗糙度轮廓复合机怎么选》
- 🧩 选型总框架：技术干货《形貌、轮廓、粗糙度仪、粗糙度轮廓、圆柱度、圆度、波纹度测量仪》
同系列另外两篇
📖 《轮廓仪速度与精度怎么平衡》 ｜ 《轮廓仪测杆与导轨怎么选》
延伸阅读 · 技术干货
📚 测量能力边界与联系看技术干货《形貌、轮廓、粗糙度仪、粗糙度轮廓、圆柱度、圆度、波纹度测量仪》；选型总框架见《几何测量与光学仪器终极选型指南》。
选不定？把工件轮廓图与节拍发我们，回一份「四系定档评审」，含免费寄样测试。
