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Cordouan VASCO KIN 原位纳米粒度分析仪

类别:Cordouan 型号:VASCO KIN
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用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格参数

技术参数

光学头技术参数
测量原理光纤动态光散射 (DLS)
样品量 (µL)低至 8 µL(因样品池而异)
测量配置原位测量——非接触式远程探头/用户自定义
样品池类型标准的一次性样品池、µL 级一次性样品池、Quartz Suprazil 标准样品池等
溶剂相容性水溶剂和有机溶剂(因样品池而异)
散射角 (°)170°
粒度范围0.5 nm 至 10 µm(因样品而异)
浓度范围最高 40%(重量百分比)(因样品而异)
尺寸/重量50 mm x 25 mm x 120 mm(高 x 宽 x 深) /<0.5 kg
硬件技术参数(中央处理单元)
激光光源高稳定性固体激光器(可选择蓝色和绿色)
探测器无伪影的雪崩光电二极管 (APD)
计算机嵌入式专用 PC
数据处理相关处理和分析软件:NanoKin® 软件
时间分辨率最高 200 ms(因样品和测量方法而异)
测量时间2 s 至 12 h
操作条件/储存条件15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%,无冷凝
尺寸/重量220 mm x 220 mm x 64 mm(上部) / 2.5 kg
220 mm x 220 mm x 48 mm(下部) / 2.8 kg
系统合规性
CE 认证CE 认证产品——3b 类激光产品 – EN 60825-1:2001,CDRH
标准化符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准以及《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理(可选)

性能特点

稳频激光器和无伪影的雪崩光电二极管 (APD) 探测器

→ 测量精度高,可分辨低至0.5 nm的颗粒

→ 样品散射度极低

· 嵌入式专用 PC,包括软件相关处理和全套专用软件 NanoKin®

→ 用户友好的操作界面

→ 储存原始光强频率数据用于时间分辨分析和后续分析

→ 包括动力学分析结果在内的完整报告

· 增强型数学模型

→ 更可靠的结果

→ 粒度分布随时间变化的二维伪彩图

主要技术参数

·测量原理:光纤动态光散射 (DLS)

·测量配置:原位/非接触式远程探头

·粒度范围:0.5 nm 至 10 µm*

·浓度范围:最高 40%(重量百分比)*

·测量时间:2 秒 至 12 小时

·时间分辨率:最高 200 毫秒

·占地面积小,无可移动部件,易于集成到恶劣环境中

·因样品而异

可更换的测量探头

  • 原位测量探头原位测量探头

    特点

    ·原位非接触式测量:无污染风险

    ·兼具耐用性和紧凑性:易于集成到空间受限的环境中

    ·嵌入式可见激光校准光束:安装方便,精准定位

    ·工作距离/散射角可调节

    ·节省成本和时间:无需耗材,免去繁琐的批量取样

    应用

    ·原位过程监控

    ·与其他仪器耦合

    高浓度测量头

    特点

    ·基于双重厚度控制 (DTC) 技术

    ·适用于高浓度和/或深色悬浮液(油墨、乳剂、原油等)

    ·无需耗材

    ·可选配高浓度在线测量流样池

    ·能够在密闭环境(手套式操作箱)中工作

    应用

    ·受控环境中的测量

    ·常规实验室测量

    高精度温控测量探头

    特点

    ·温度范围宽:5°C 至 80°C;± 0.05°C

    ·体积小巧:能够在密闭环境(手套式操作箱)中工作

    ·与标准 10×10 mm2 比色皿(一次性或 QS)兼容

    ·无交叉污染,取样方便

    ·可选配荧光滤光片

    ·可选配各种比色皿:一次性比色皿、玻璃比色皿、微型比色皿、流动比色皿……

    应用

    ·批量取样测量

    ·常规实验室测量

📎 产品资料
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