用途场景
规格参数
产品概述
EF系列偏心测量仪采用电磁测量技术和光学测量技术相结合的测量原理。多轴光学测量系统负责测量线缆绝缘层的外径、椭圆度和位置，而多轴电磁测量系统则用于确定线缆导体线芯的位置。
- 支持非接触式8点偏心、壁厚测量
- 支持四轴高速高精度尺寸测量
- 支持测量头自动对中，实现高精度测量
- 可精确检测线材表面凹凸缺陷
- 测量头配备7英寸彩色触摸屏，交互简单
- 配有自定义报警功能
- 支持蓝牙手机连接和WIFI组网功能
- 搭载FFT频谱分析，识别周期性异常并缩小排查范围，减少产线设备盲目调机
| 测量范围 | 0.2~10mm |
| 测量数据 | 偏心、同心度、壁厚、直径、凹凸缺陷 |
| 测量原理 | 电磁测量和远心光学测量技术 |
| 应用行业 | 电线电缆 |
核心优势
光学测量和磁测量同步测量，数据更加准确
光学测量和磁测量以非常高的速率进行同步测量，最大限度地减少了由线材振动引起的误差
支持非接触式8点偏心、壁厚测量，无损、盲区更小
八轴非接触测量，盲区更小，可敏锐捕捉更细微的偏心偏差与表面凹凸缺陷，不压扁、不划伤、无接触磨损。偏心、壁厚同步测量，截面状态实时可视，高速产线不停线，数据更全面、结果更真实。
46KHz/轴的超快速度，可检测更细微的缺陷
采用高速CMOS和FPGA技术，产品单轴采样率可达46KHz，相同速度下，相比上一代设备，采样间距缩短8倍，可以检测到更小的凹凸缺陷，降低了产线的漏检率。
缺陷成像显示功能，减少您找缺陷的麻烦
凹凸缺陷检测功能可以记录并显示缺陷图片、缺陷大小和位置。您的技术人员不必再倒带数千米的产品来尝试定位缺陷，他们可以直接通过大能的软件系统来分析和诊断任何检测到的缺陷。
规格参数
| 型号 | EF-4010K | |
|---|---|---|
| 光轴数量 | 4 | |
| 采样频率 | 46KHz/轴 | |
| 测量范围 | 0.2~10mm | |
| 直径测量 | 测量精度 | ±1μm(1) |
| 重复精度 | ±0.1μm(2) | |
| 偏心测量 | 测量精度 | ±1μm(3) |
| 重复精度 | ±0.5μm(4) | |
| 最小可检测缺陷高度 | 0.02mm | |
| 最小可检测缺陷长度 | 0.2mm@560m/min；0.5mm@1400m/min | |
| 凹凸测量数据 | 缺陷类型、大小、长度、位置 | |
| 尺寸测量数据 | 外径、椭圆度、偏心值、壁厚 | |
| 显示方式 | 机载7寸彩色触摸屏 | |
| 工作电源 | 100 - 240VAC，50/60Hz，Max.90W | |
| 通讯接口 | 标配：蓝牙、RS485(MODBUS RTU) 选配：PROFIBUS、PROFINET、 EtherNet/IP等工业总线或工业以太网(5) | |
| 电气接口 | 标配：数字量输出（继电器）、数字量输入、编码器脉冲输入接口 选配：PI反馈控制(5) | |
| 数据采集分析 | TDC3000，DMS1000 | |
| 工作温度 | 5~45°C | |
| 防护等级 | IP53 | |
注： (1) 在测量区域4*4mm内，移动直径10mm的圆棒并执行测量时的误差； (2) 将滤波时间设置为0.1秒，在测量区域中心测量直径10mm的圆棒外径时的±2σ值 ； (3) 在测量区域中心，测量直径0.275mm标准裸导体时的偏心误差； (4) 将平均时间设置为3+3秒，在测量区域中心测量直径0.275mm标准裸导体时偏心的±2σ值； (5) 工业以太网通讯模块、PI反馈模块为出厂预装，若未选配该模块则后期不支持加配。 | ||
应用场景
适用于同轴电缆、LAN 电缆、汽⻋电子线等的在线生产测量和检测。
常见问题
问：偏心仪可以测量哪些数据?
答：偏心、同心度、壁厚、直径、椭圆度、凹凸缺陷
问：线速度会影响偏心仪的测量精度吗?
答：线速度不会直接降低其偏心测量精度；但线速度会通过“平均时间”改变显示值所代表的电缆长度，从而影响与切割样品值的一致性，例如：线速度 600 m/min、平均时间 2 s 时，对应取样约 20 m 电缆，各区段之间的间距显然过大；因此，若将在线显示值与实验室切割样品对比，应按平均时间取样，并注意高速下线缆位置变化带来的代表性差异。
问：偏心仪适用于哪些电缆?多芯线缆可以吗?
答：偏心仪适用于圆形单芯线和线芯近似圆形的多芯线缆，同轴电缆、LAN电缆、汽车电子线等是典型应用
❓ 常见问答 3 查看更多 →
问：线速度会影响偏心仪的测量精度吗?
答：线速度不会直接降低其偏心测量精度；但线速度会通过“平均时间”改变显示值所代表的电缆长度，从而影响与切割样品值的一致性，例如：线速度 600 m/min、平均时间 2 s 时，对应取样约 20 m 电缆，各区段之间的间距显然过大；因此，若将在线显示值与实验室切割样品对比，应按平均时间取样，并注意高速下线缆位置变化带来的代表性差异。
